一、儀器簡介
DF-2000手持式熒光光譜儀廣泛適用于質(zhì)量控制、合金鑒別、勘探、礦石開采、礦物品位控制等領域。它具有體積小、重量輕、待機時間長、無損檢測、分析速度快、準確度高、穩(wěn)定性好、適用范圍廣、性價比高等優(yōu)點。對樣品形態(tài)要求低,固體、粉末、液體樣品均可直接檢測,多種元素含量一次性測定,方便快捷。
主要應用實例:廢舊金屬回收、合金材料牌號鑒定、貴金屬等檢測(如不銹鋼、中低合金鋼、銅合金、鈦合金、鋁合金、鉭合金等的鑒定分析),探礦檢測、品位控制、環(huán)境分析領域(可檢測礦石中多達40多種元素如:P、Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr等),原礦、精礦、尾礦、礦渣等礦物品分析等領域,為各種材質(zhì)等的分析提供可靠地判斷價值。
二、儀器原理
X射線管發(fā)出的一次X射線,經(jīng)過準直器照射到樣品表面,樣品激發(fā)并輻射出所含元素的特征X射線,根據(jù)特征X射線的能量及強度對樣品所含元素進行定性、定量分析。
三、元素分析范圍及含量范圍
理論上,DF-2000若配置SDD探測器,可檢測Mg(12)-U(92)之間的所有元素。元素含量范圍寬,從ppm含量到99.9均可檢測,具體檢出限需看分析材質(zhì)。
四、主要部件配置及參數(shù)
光源部分 | ||||
X光管品牌 | Amptek | X光管輸入 | 9-11VDC,0.5A | |
X光管靶材 | 銠靶 | X光管輸出 | 50KV,200μA | |
X光管功率 | 4W | 準直器材質(zhì) | 銅、銀 | |
X光管穩(wěn)定性 | 0.2% 8h | |||
探測器 | ||||
探測器類型 | SDD | |||
探測器品牌 | Amptek | |||
典型分辨率 | 123ev | |||
輸出計數(shù)率 | 100Kcps | |||
峰背比 | >8200 |